2020年粒度儀部分新品盤點

作者： 2021年03月01日來源：中國儀表網瀏覽量：

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粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。本期2020儀器系列盤點，我們就粒度儀

　　粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。本期2020儀器系列盤點，我們就粒度儀部分新品進行梳理，以饗讀者。

　　注：本文為不完全統計，僅供參考。

　　真理光學：LT3600 Plus激光粒度分析儀

　　上市時間：2020年1月

　　LT3600 Plus激光粒度分析儀屬于新一代超高速智能激光粒度分析系統，它優化了市場上現有的激光粒度儀的部分使用性能。此外，LT3600 Plus加持了偏振濾波技術、衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術、斜置梯形測量窗口、格柵式超大角檢測技術、統一的粒度分析模式、雙驅動進樣分散集成技術、樣品槽液位實時監測技術等多項創新和專利技術。

　　HORIBA Scientific：ViewSizer 3000 納米顆粒追蹤分析儀

　　上市時間：2020年8月

　　ViewSizer™3000 實現了納米顆粒追蹤分析技術的突破性提升，包括特有的照射和檢測方法，使得各種尺寸納米顆粒的可視化、粒徑和數量濃度測量成為可能。

　　此款設備的創新點在于：儀器配備三種波長激光光源，激光功率可調，實現寬分布樣品粒徑的測量；特有的樣品池設計幫助實現樣品體系的快速混合，且清洗方便；熒光模塊可實現樣品中各組分粒徑分布及顆粒數量與比例的測量；運用重力沉降原理擴展儀器的粒徑測量上限。

　　馬爾文帕納科：納米粒度電位儀Zetasizer Ultra

　　上市時間：2020年8月

　　Zetasizer Ultra 融合了DLS與 ELS 系統，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和獨特的多角動態光散射 (MADLS) 技術來測量顆粒與分子大小。 NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。

　　此外，Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 擴展功能可直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，使其成為一種理想的篩選技術，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒 (VLP) 等樣品。

　　奧法美嘉：PSS Nicomp 380 N3000 Plus 頂配納米粒度儀

　　上市時間：2020年8月

　　Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有專利技術的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優勢。

　　貝拓科學：納米粒度儀DLS 90

　　上市時間：2020年9月

　　DLS90是一款基于動態光散射原理研制的納米顆粒粒度表征儀器，原理是通過分散在液體中的顆粒由于受到液體分子的熱運動撞擊而進行不規則的布朗運動觀察對應顆粒的擴散行為(當一束激光照射到這些顆粒時，其散射光的強度會由于顆粒的布朗運動而隨機變化，且變化的快慢與顆粒布朗運動的快慢有關)。

　　此款設備的主要特點如下：具備極速測量和標準測量兩種測量模式。其中，極速測量最快10s給出測量結果；標準測量嚴格按ISO標準測量過程，結果同樣準確可靠。其次，該設備配備了高速光子相關器等高性能關鍵零部件，保障機器平穩運行。

　　以上，就是編者整理的2020年粒度儀部分新品盤點。

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標簽：粒度儀電位儀表征儀器

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