日立分析儀器為臺式光譜儀系列新增強大解決方案

作者： 2018年06月07日來源：全球化工設備網瀏覽量：

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【中國化工儀器網名企動態】日立分析儀器是日立高新技術公司旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日，日立分析儀器為臺式光譜儀系列新增強大解決方案，以應對涂鍍層行業的常見挑戰。　　　　

【中國化工儀器網名企動態】日立分析儀器是日立高新技術公司旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日，日立分析儀器為臺式光譜儀系列新增強大解決方案，以應對涂鍍層行業的常見挑戰。

　　ft系列涂鍍層測厚儀旨在對生產質量控制發揮關鍵作用，其在金屬飾面處理和電子市場中的具有廣泛應用。ft110a 和 ft150 系列為復雜形狀的大型零件測量以及小型特征超薄涂層測量提供了新型解決方案。這兩種儀器均屬于臺式 edxrf（能量色散x射線熒光）光譜儀，具有功能強大的軟件和硬件，旨在提高樣品分析量，任何操作員都可獲得高質量的結果。

　　輕松處理復雜樣品

　　ft110a 包含多個特征，用于測量通常難以處理的零件。可配置全封閉或開槽門的大型腔室，可裝入汽車零部件和裝飾五金件，與處理小型緊固件一樣容易。自動對焦程序可以在離樣品表面 80mm 的位置進行測量，非常適合測量凹陷區域或快速測量不同高度的多個零件。自動接近功能提供一鍵式定位功能，可將x射線組件設置在理想距離，以獲得有復驗性的結果。寬視角攝像頭將呈現整個樣品的圖像，以便輕松定位所需的測量位置。只需點擊圖像中的特征，它將自動對準進行分析。

　　測量納米級的涂層

　　ft150 配置高端組件，可以提供精細結構上的超薄涂層的元素分析。毛細聚焦管聚焦x射線束直徑小于20μm，實現在樣品上聚焦更大強度，并測量小于傳統準直器可測量的特征。高靈敏度、高分辨率vortex®硅漂移探測器（sdd）充分利用光學元件測量微電子設備和半導體上的納米級涂層。高精度載物臺和具備數字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣品特征，以提高樣品分析量。

　　日立分析儀器產品經理 matt kreiner 表示：“受到40年xrf鍍層測厚儀研發經驗啟發，ft110a 和 ft150 使用的智能功能解決了涂鍍層分析中最難的一些挑戰。ft110a 的樣品處理能力和 ft150 的微焦分析能力補全了我們全套涂鍍層測厚儀系列，我們很高興為客戶提供這些新型解決方案。”

　　編輯點評

　　此次日立分析儀器為臺式光譜儀系列新增強大解決方案，以應對涂鍍層行業的常見挑戰，充分展示了公司員工團結一致、勇往直前的精神風貌，它是公司全體員工共同努力的結果。這也體現了日立的團隊是一支有凝聚力的團隊，一支能打硬仗的團隊，一支充滿朝氣的團隊，相信在未來日立一定會取得更加驕人的成績！

　　關于日立高新技術公司

　　日立高新技術公司總部位于日本東京，從事科學和醫療系統、電子設備系統、工業系統和先進工業產品等廣泛領域的活動。公司2017財年的綜合銷售額約為6877億日元（約合63億美元）。

　　關于日立分析儀器公司

　　日立分析儀器是2017年7月成立并隸屬于日立高新技術集團的全球性公司，總部位于英國牛津。其研發和生產運營部門位于芬蘭、德國和中國，在全球許多國家可提供銷售和支持服務。

　　（原標題：日立分析儀器為臺式光譜儀系列新增強大解決方案，以應對涂鍍層行業的常見挑戰）

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