SIMT與賽默飛聯合舉辦集成電路行業發展研討會

作者： 2020年08月05日來源：互聯網瀏覽量：

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2020年7月28日，上海市計量測試技術研究院材質中心理化室與國際分析儀器巨頭賽默飛世爾公司在上海共同舉辦了“集結技術，突破核心”——2020年集成電路行業發展與分析技術研討會。此次會議也是上海市計量測試技術研

　　2020年7月28日，上海市計量測試技術研究院材質中心理化室與國際分析儀器巨頭賽默飛世爾公司在上海共同舉辦了“集結技術，突破核心”——2020年集成電路行業發展與分析技術研討會。此次會議也是上海市計量測試技術研究院“上海市電子化學品計量檢測技術服務平臺”(以下簡稱“平臺”)的一項重要對外服務活動。

　　參加此次研討會的單位既有中芯國際、新昇半導體等我國集成電路支柱企業，又有諸如洛陽中硅、浙江巨化等新興民營電子化學品生產企業，共有116名參會人員。會上上海市計量測試技術研究院人員介紹了平臺為集成電路產業提供大型設備計量校準、濕電子化學品雜質檢測、納米尺寸與顆粒度檢測、電子級氣體質量評價和物理表征等技術服務情況，分享了2019年集成電路產業發展報告；賽默飛世爾公司特邀業內專家分別介紹了高純金屬靶材、大尺寸硅片和超痕量檢測的技巧等多方面內容。研討會干貨滿滿，氣氛熱烈，得到了與會人員的一致好評。

　　當下國際環境日益復雜，隨著市場需求和國家政策的推動，我國集成電路產業正在經歷著發展變革。隨著芯片制程工藝水平的不斷提升，對各類材料及化學品的品控要求近乎苛刻，雜質的檢測要求已達十億分之一的級別，對檢測方法和檢測設備都提出了全新的要求。在此背景下，上海市計量測試技術研究院與賽默飛世爾公司強強聯合，為上海及周邊地區的集成電路及電子化學品生產企業及研發機構，提供了一次很好的學習交流機會，共同探討了我國集成電路技術的發展，集成電路領域新的技術應用和前沿發展成果。

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標簽：賽默飛世爾芯片

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