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靜態參數測試系統

產地：

規格：力鈦科LETAK功率器件靜態參數測試系統，集多種測量功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件 (如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態參數，具有高電壓和大電流特性、μQ級導通電阻精確測量、nA

公司所在地：廣東深圳

電話：13530457753

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靜態參數測試系統的簡單介紹

LET-5000靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。

靜態參數測試系統的詳細信息

產品特點

LET-5000靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。

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力鈦科LETAK功率器件靜態參數測試系統，集多種測量功能一體，可以準確測量不同封裝類型功率器件 (如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態參數，具有高電壓和大電流特性、μQ級導通電阻精確測量、nA級漏電流測量能力等特點。支持高壓模式下功率器件結電容測試，如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。

被測對象及主要測試參數

被測對象	主要測試參數
分立器件	Id-Vg，Id-Vd，Ic-Vc,二極管
雙極	Ic-Vc、二極管、Gummel 圖、擊穿、hfe、電容
Coms	Id-Vg、Id-Vd、Vth、擊穿、電容、QSCV等
內存	Vth、電容、耐久測試等。
MOSFET	Id-Vds,Rds-Id,Id-Vgs,電容
IGBT	Ic-Vce，Ic-Vge,Vce(sat),Vth Vge(off),擊穿
太陽能電池	I-V、Cp-V、奈奎斯特圖、DLCP 等。
納米器件	電阻、Id-Vg、Id-Vd、Ic-Vc等。
GaN	FET 電流衰減、Id-Vds 電流衰減、二極管電流

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